寶德提供廠商一站式服務(wù),讓客戶無后顧之憂,助客戶聚焦核心業(yè)務(wù)
1．范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微型電子計算機的技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則和標(biāo)志、包裝、運輸、貯存。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于寶德計算機系統(tǒng)股份有限公司生產(chǎn)的微型電子計算機，家用、商用、軍用及類似用途的微型電子計算機（以下簡稱PL Server）。
2． 規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注明日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注明日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T191-2008 包裝儲運圖示標(biāo)志
GB/T 2828.1-2012 計數(shù)抽樣檢驗程序 第1部分：按接收質(zhì)量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計劃
GB/T 4857.2-2005 包裝、運輸包裝件基本試驗 第2部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理
GB/T 4857.5-1992 包裝、運輸包裝件 跌落試驗方法
GB 4943.1-2011 信息技術(shù)設(shè)備 安全 第1部分：通用要求
GB/T 6882-2008 聲學(xué) 聲壓法測定噪聲源聲功率級 消聲室和半消聲室精密法
GB 9254-2008 信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測量方法
GB 17625.1-2012 電磁兼容 限值 諧波電流發(fā)射限值(設(shè)備每相輸入電流≤16A)
GB/T 9813-2000 微型計算機通用規(guī)范
3． 主要技術(shù)性能：
3.1功能
PL Server采用集成總線結(jié)構(gòu)，能正常運行DOS、Windows及LINUX等操作系統(tǒng)及以其作為平臺的應(yīng)用軟件。通過集成的網(wǎng)絡(luò)適配器或調(diào)制解調(diào)器等附件，能夠訪問局域網(wǎng)或Internet。PL Server適合于家用、商用、軍用及類似用途。
3.2使用條件：
儲存溫度：-40℃～55℃
工作溫度：10℃～35℃
相對濕度：5%～95%
大氣壓力：86kPa～106kPa
電源電壓：100-240VAC
電源頻率：50Hz/60Hz
3.3配置：
中央處理器： 使用Intel XEON 5000以上級別產(chǎn)品，運行頻率不低于1.60GHz
主板 ： 包括輸入輸出控制器和外圍設(shè)備控制器，使用C600，C200芯片以上級別產(chǎn)品
顯示卡 ： 主板自帶ATI ES1000芯片、8M顯存以上級別產(chǎn)品
內(nèi)存 ：DDR3 2GB及以上
硬盤 ：16GB及以上
光驅(qū) ：40倍速及以上
顯示器 ：15英寸及以上
機箱 ：ATX/SSI結(jié)構(gòu)
電源 ：ATX/SSI結(jié)構(gòu)
鍵盤 ：PS/2接口或USB接口
鼠標(biāo) ：PS/2接口或USB接口
RAID卡 ：SAS 6Gb卡及后續(xù)產(chǎn)品
4． 技術(shù)要求
4.1外觀和結(jié)構(gòu)要求
4.1.1產(chǎn)品表面不應(yīng)有明顯的凹痕、劃傷、裂縫、變形和污染等。表面涂鍍層應(yīng)均勻，不應(yīng)起泡、龜裂、脫落和磨損。金屬零部件不應(yīng)有銹蝕及其它機械損傷。
4.1.2產(chǎn)品的零部件應(yīng)緊固無松動，鍵盤、開關(guān)、按鈕和其它控制部件的控制應(yīng)靈活可靠。
4.2安全
PL SERVER的安全要求應(yīng)符合GB4943.1-2011的規(guī)定
4.3噪聲
PL SERVER工作時，距其1m處噪聲不得高于60dB。
PL SERVER工作時，距其1m處2個風(fēng)扇的噪聲不得高于60dB。
PL SERVER工作時，距其1m處3個風(fēng)扇的噪聲不得高于75dB。
PL SERVER工作時，距其1m處4個風(fēng)扇的噪聲不得高于85dB。
PL SERVER工作時，距其1m處6個風(fēng)扇的噪聲不得高于90dB。
4.4電磁兼容性
4.4.1無線電騷擾限值
產(chǎn)品的無線電騷擾限值應(yīng)符合GB9254-2008的要求，達到A級騷擾限值要求。測量條件參照GB9254-2008中第7章和第8章。
1）電源端子騷擾電壓限值
表1 A級ITE電源端子傳導(dǎo)騷擾限值
|
頻率范圍/MHz |
限值/dB(μV) |
|
|
準(zhǔn)峰值 |
平均值 |
|
|
0.15～0.50 |
79 |
66 |
|
0.50～30 |
73 |
60 |
注：在過渡頻率（0.50MHz）處采用較低的限值
2）電信端口的傳導(dǎo)共模騷擾限值
表2 A級電信端口傳導(dǎo)共模（不對稱）騷擾限值
|
頻率范圍/MHz |
電壓限值/dB(μV) |
電流限值/dB(μV) |
||
|
準(zhǔn)峰值 |
平均值 |
準(zhǔn)峰值 |
平均值 |
|
|
0.15～0.50 |
97～87 |
84～74 |
53～43 |
40～30 |
|
0.50～30 |
87 |
74 |
43 |
30 |
注1：在0.15MHz～0.5MHz頻率范圍內(nèi)，限值隨頻率的對數(shù)呈線性減小。
注2：電流和電壓的騷擾限值是在使用了規(guī)定阻抗的阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（ISN）條件下導(dǎo)出的，該阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)對于受試的電信端口呈現(xiàn)150Ω的共模（不對稱）阻抗（轉(zhuǎn)換因子為20lg150=44dB）
3）1GHz以下的輻射騷擾限值
表3 A級ITE在測量距離R處（10m）的輻射騷擾限值
|
頻率范圍/MHz |
準(zhǔn)峰值限值/dB(μV) |
|
30～230 |
40 |
|
230～1000 |
47 |
注1：在過渡頻率（230MHz）出采用較低的限值
注2：當(dāng)發(fā)生干擾時，允許補充其他的規(guī)定
4）1GHz以上的輻射騷擾限值
表4 A級ITE在測量距離R處（3m）的輻射騷擾限值
|
頻率范圍/GHz |
平均值/dB(μV/m) |
峰值/dB(μV/m) |
|
1～3 |
56 |
76 |
|
3～6 |
60 |
80 |
注：在過渡頻率（3GHz）處采用較低的限值
4.4.2 抗擾度
抗擾度限值應(yīng)符合GB/T 17618的規(guī)定
4.5機械環(huán)境適應(yīng)性
4.5.1振動適應(yīng)性 見表3。
表3 振動適應(yīng)性
|
試驗項目 |
試驗內(nèi)容 |
條 件 |
|
初始和最后振動響應(yīng)檢查 |
頻率范圍Hz |
5～35 |
|
掃頻速度oct/min |
≤1 |
|
|
驅(qū)動振幅峰值 |
0.15mm |
|
|
定頻耐久試驗 |
驅(qū)動振幅峰值 |
0.15mm |
|
持續(xù)時間min |
10±0.5 |
|
|
掃頻耐久試驗 |
頻率范圍 |
5～35～5 |
|
驅(qū)動振幅峰值 |
0.15mm |
|
|
掃頻速度oct/min |
≤1 |
|
|
循環(huán)次數(shù) |
2 |
4.5.2沖擊適應(yīng)性 見表4。
表4
|
峰值加速度m/s2 |
脈沖持續(xù)時間ms |
沖擊波形 |
|
150 |
11 |
半正弦波形 |
4.5.3碰撞適應(yīng)性 見表5。
表5
|
峰值加速度m/s2 |
脈沖持續(xù)時間ms |
碰撞次數(shù) |
|
100 |
16 |
1000 |
4.5.4運輸包裝件跌落適應(yīng)性 見表6。
表6
|
包裝件質(zhì)量kg |
跌落高度mm |
|
10～30 |
800 |
|
＞30 |
600 |
4.6可靠性
采用平均無故障工作時間（MTBF）衡量產(chǎn)品的可靠性水平。
PL SERVER的m1值（MTBF的不可接收值）不得低于4000h。
5． 試驗方法
5.1試驗環(huán)境條件
本標(biāo)準(zhǔn)中除氣候環(huán)境試驗、可靠性試驗和耐電強度試驗以外，其它試驗在下述正常大氣條件下進行。
溫 度：10℃～35℃
相對濕度：5%～95%
大氣壓力：86kPa～106kPa
5.2外觀和結(jié)構(gòu)檢查
用目測法進行外觀和結(jié)構(gòu)檢查，應(yīng)符合4.1條的要求。
5.3性能檢查
按本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的各項技術(shù)性能逐項進行檢查，應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)的要求。若通過運行檢查程序檢查產(chǎn)品的功能，則應(yīng)從頭至尾運行檢查程序一遍，檢查程序編制原則與技術(shù)要求見GB/T 9813-2000附錄A。
5.4安全試驗
5.4.1安全試驗
按GB4943.1-2011中的有關(guān)規(guī)定進行。
5.4.2對地泄漏電流試驗
按GB4943.1-2011中5.2條規(guī)定進行。
5.4.3耐電強度試驗
按GB4943.1-2011中5.3條規(guī)定進行，但在交收檢驗時，不進行預(yù)處理。
5.5電源適應(yīng)能力試驗
按GB/T 9813-2000中5.5條規(guī)定進行試驗。
5.6噪聲試驗
按GB/T 6882規(guī)定進行。測試點距離受試樣品各表面1m處，在打印機不工作、在軟盤和硬盤不尋道的條件下進行測試，取最大值。
5.7電磁兼容性試驗
5.7.1 無線電騷擾限值的測量方法
按GB 9254規(guī)定的方法進行。試驗過程中運行檢查程序，工作應(yīng)正常
5.7.2 抗擾度試驗
抗擾度限值的測量方法按GB/T 17618規(guī)定的進行。試驗過程中運行檢查程序，工作應(yīng)正常
5.8環(huán)境試驗
環(huán)境試驗方法按GB/T 9813-2000中5.8所規(guī)定的方法進行。
5.9可靠性試驗
可靠性試驗方法按GB/T 9813-2000中5.9所規(guī)定的方法進行。
6檢驗規(guī)則
6.1檢驗分類
產(chǎn)品應(yīng)通過下列檢驗：
a.定型檢驗；
b.交收檢驗；
c.例行檢驗。
各類檢驗項目和順序分別按表7的規(guī)定。
表7
|
檢驗項目 |
技術(shù)要求 |
試驗方法 |
定型檢驗 |
交收檢驗 |
例行檢驗 |
|
外觀和結(jié)構(gòu) |
4.1 |
5.2 |
O |
O |
O |
|
安全 |
4.2.1 |
5.4.1 |
O |
－ |
－ |
|
對地泄漏電流 |
4.2.2 |
5.4.2 |
O |
O |
O |
|
耐電強度 |
4.2.3 |
5.4.3 |
O |
O |
O |
|
性能 |
3.3 |
5.3 |
O |
O |
O |
|
電源適應(yīng)能力 |
3.2 |
5.5 |
O |
－ |
O |
|
噪聲 |
4.3 |
5.6 |
O |
－ |
O |
|
電磁兼容 |
4.4 |
5.7 |
O |
－ |
O |
|
溫度下限 |
3.2 |
5.8 |
O |
－ |
O |
|
溫度上限 |
3.2 |
5.8 |
O |
－ |
O |
|
恒定濕熱 |
3.2 |
5.8 |
O |
－ |
O |
|
振動 |
4.5.1 |
5.8 |
O |
－ |
O |
|
沖擊 |
4.5.2 |
5.8 |
O |
－ |
O |
|
碰撞 |
4.5.3 |
5.8 |
O |
－ |
O |
|
運輸包裝件跌落 |
4.5.4 |
5.8 |
O |
－ |
O |
|
可靠性鑒定 |
4.6 |
5.9 |
O |
－ |
－ |
|
可靠性驗收 |
4.6 |
5.9 |
－ |
－ |
O |
注：“O”表示應(yīng)進行的檢驗項目。
“-”表示可以省略的檢驗項目。
6.2定型檢驗
6.2.1產(chǎn)品在設(shè)計定型和生產(chǎn)定型時均應(yīng)通過定型檢驗.
6.2.2定型檢驗由質(zhì)量管理部負責(zé)進行。
6.2.3定型檢驗中的可靠性鑒定試驗的樣品數(shù)為3，其余檢驗項目的樣品數(shù)量為2臺。
6.2.4定型檢驗中的各檢驗項目故障的判定和計入方法見GB/T 9813-2000附錄B。除可靠性鑒定一項外，其余項目均按以下規(guī)定進行。檢驗中出現(xiàn)故障或某項通不過時，應(yīng)停止試驗，查明故障原因，提出故障分析報告，重新進行該項試驗。若在以后的試驗中再次出現(xiàn)故障或某項通不過時，在查明故障原因，排除故障，提出故障分析報告后，應(yīng)重新進行定型檢驗。
6.2.5檢驗后要提交定型檢驗報告。
6.3交收檢驗
6.3.1批量生產(chǎn)或連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品,進行全數(shù)交收檢驗,檢驗中,出現(xiàn)任一項不合格時,返修后重新進行檢驗。若再次出現(xiàn)任一項不合格時，該臺產(chǎn)品被判為不合格產(chǎn)品。
首先檢查全部樣品的安全性，當(dāng)發(fā)現(xiàn)一個致命缺陷時，則判該批為不合格批。
交收檢驗中性能檢查見表8，外觀結(jié)構(gòu)檢查見表9。
表8
|
序號 |
檢查項目 |
缺陷內(nèi)容 |
不合格分類 |
||||
|
A |
B |
C |
|||||
|
1 |
CPU |
1)CPU類型不符 2)實測外頻或倍頻與標(biāo)稱值嚴(yán)重不符 3)一級緩存或二級緩存與標(biāo)稱值嚴(yán)重不符 4)CPU架構(gòu)不符或無多媒體指令MMX |
O O O O |
|
|
||
|
2 |
主板 |
1)缺少以下任一接口： 串口，并口，鍵盤，鼠標(biāo)，軟驅(qū)，IDE，USB，CPU，Memory， 2)破損以下任一接口： 串口，并口，鍵盤，鼠標(biāo)，軟驅(qū)，IDE，USB，CPU，Memory， |
O O |
|
|
||
|
3 |
內(nèi)存 |
1)容量不符 2)不能在100MHz或133MHz頻率下運行 3)100MHz或133MHz頻率下運行不穩(wěn)定 4)表面有劃痕 |
O O O |
O |
|
||
|
4 |
軟驅(qū) |
1)容量不符 2)不能讀、寫磁盤 3)聲音尖銳，或有共振聲 |
O O |
O |
|
||
|
5 |
光驅(qū) |
1)不能開關(guān)托盤 2)不能讀取有損傷的光盤 3)需較長時間讀取光盤 |
O
O |
O
|
|
||
|
6 |
硬盤 |
1)容量不符 2)以下任一參數(shù)不符： 柱面，磁頭，扇區(qū)，緩存，傳輸模式，接口模式 |
O O |
|
|
||
|
7 |
顯示卡 |
1)顯示芯片不符 2)顯存大小不符 |
O O |
|
|
||
|
8 |
聲卡 |
1)聲卡芯片不符 2)音量不能調(diào)節(jié) 3)雜音大 |
|
O
O |
|
O |
|
|
9
|
RAID卡 |
1）RAID卡芯片不符 2）RAID卡內(nèi)存不符 3）RAID卡缺任一接口 |
O O O |
|
|
||
|
10
|
HBA卡 |
1）HBA卡芯片不符 2）HBA卡接口不符 |
O O |
|
|
||
|
11
|
PCI轉(zhuǎn)接卡 |
1）PCI轉(zhuǎn)接卡芯片不符 2）PCI插槽不標(biāo)準(zhǔn) |
O O |
|
|
||
注：“O” 表示應(yīng)進行的檢驗項目
表9
|
序號 |
檢查項目 |
缺陷內(nèi)容 |
不合格分類 |
||
|
A |
B |
C |
|||
|
1 |
外觀結(jié)構(gòu) |
1)機殼嚴(yán)重開裂，變形，損傷，脫漆或銹蝕 2)距機身50cm觀察，出現(xiàn)可見的劃傷，變形，脫漆，銹蝕，毛刺≥10mm 3)表面輕微劃傷，變形，脫漆，銹蝕，毛刺 4)接縫明顯不合或高低不平 5)接縫不合 6)安裝松動或缺少螺絲釘 7)表面有污點≥1X1mm 8)表面有污點<1X1mm，并可擦除 9)銘牌，商標(biāo)錯誤或模糊不清 10)機殼和銘牌上均無生產(chǎn)廠名 |
O
O O |
O
O
O O
|
O
O
O
|
|
2 |
裝飾與功能控制件 |
1)指示燈缺少 2)任一指示燈不能正常顯示 3)任一功能鍵，控制鈕，開關(guān)等活動部件失靈 4)上述活動件過松或過緊，明顯變形但未失效 5)上述活動件偶爾不起作用 6)任一插孔，插頭失效 7)任一插孔，插頭接觸不良 |
O
O
O
|
O
O
O |
O
|
6.3.2抽樣方案
以同一生產(chǎn)條件，一個生產(chǎn)班（4小時）的同型號產(chǎn)品為為一個檢驗批，批量不宜超過300臺，超出部分劃為另一檢驗批。同型號指所有配置均相同的POWERLEADER SERVER。
按GB/T 2828.1有關(guān)方法進行，各檢驗項目的合格質(zhì)量水平（AQL），檢查水平，抽樣方式見表10。
表10（本表不含安檢測內(nèi)容）
|
序號 |
檢查項目 |
合格質(zhì)量水平（AQL） |
檢查水平 |
抽樣方式 |
||
|
A類不合格品 |
B類不合格品 |
C類不合格品 |
||||
|
1 |
性能檢查 |
0.65 |
1.5 |
6.5 |
一般檢查水平II |
正常檢查一次抽樣 |
|
2 |
外觀結(jié)構(gòu)檢 查 |
1.5 |
6.5 |
- |
一般檢查水平II |
|
6.3.3交收檢驗由質(zhì)量管理部負責(zé)進行。
6.4例行檢驗
6.4.1連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品,每年至少進行一次例行檢驗。
6.4.2連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品若間隔時間大于三個月，恢復(fù)生產(chǎn)時應(yīng)進行例行試驗。
6.4.3當(dāng)產(chǎn)品主要的設(shè)計，工藝及原材料改變時，應(yīng)對更改項目內(nèi)容做相應(yīng)的試驗。
6.4.4安全性試驗樣品為2臺。
6.4.5可靠性試驗樣品為3臺。
6.4.6例行檢驗由質(zhì)量管理部負責(zé)。根據(jù)訂貨方的要求，可提供產(chǎn)品近期的例行檢驗報告。
6.4.7例行檢驗樣品應(yīng)在交收檢驗合格產(chǎn)品中隨機抽取，其中的可靠性驗收檢驗項目的樣品數(shù)按表8規(guī)定，其余檢驗項目的試驗樣品數(shù)為2臺。
6.4.8例行檢驗中檢驗項目的故障判定和計入方法見GB9813-2000附錄B。除可靠性驗收試驗外，其余項目的故障處理按以下規(guī)定進行。檢驗中出現(xiàn)故障或任一項通不過時，應(yīng)查明故障原因，提出故障分析報告，經(jīng)修復(fù)后應(yīng)重新做該項檢驗。之后，再順序做以下各項檢驗，如再次出現(xiàn)故障或某項通不過，在查明故障原因，提出故障分析報告，再經(jīng)修復(fù)后，則應(yīng)重新進行各項例行檢驗。在重新進行檢驗中又出現(xiàn)某一項通不過的情況時，則判該產(chǎn)品通不過例行檢驗。
經(jīng)例行檢驗中的環(huán)境試驗的樣品,應(yīng)印有標(biāo)記,一般不作為正品出廠。
6.4.9檢驗后要提交例行檢驗報告。
7標(biāo)志、包裝、運輸、貯存
7.1標(biāo)志
7.1.1PL SERVER上應(yīng)標(biāo)有制造廠名稱,商標(biāo)和產(chǎn)品型號。
7.1.2與電網(wǎng)電源直接連接處附近應(yīng)標(biāo)有電源的性質(zhì)，額定電壓和頻率等。
7.1.3運輸包裝箱上應(yīng)有下列標(biāo)志：
a.產(chǎn)品名稱、型號、生產(chǎn)廠的名稱和廠址；
b.出廠年、月、日；
c.包裝質(zhì)量：kg；
d.包裝件最大外部尺寸，長寬高；
e.噴刷或貼有“小心輕放”、“怕濕”、“向上”等運輸標(biāo)志，運輸標(biāo)志應(yīng)符合GB/T191-2008的規(guī)定。
f.執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)號
包裝箱外噴刷或粘貼的標(biāo)志不應(yīng)因運輸條件和自然條件而退色、變色、脫落。
7.2包裝箱應(yīng)符合防潮、防塵、防震的要求，包裝箱內(nèi)應(yīng)有裝箱清單、檢驗合格證、保修卡及有關(guān)的隨機文件。
7.3包裝后的產(chǎn)品能以任何交通工具，運往任何地點。在長途運輸時不得裝在敞開的船艙和車廂，中途轉(zhuǎn)運時不得存放在露天倉庫中。在運輸過程中不允許和易燃、易爆、易腐蝕的物品同車（或其它運輸工具）裝運，并且產(chǎn)品不允許經(jīng)受雨、雪或液體物質(zhì)的淋襲與機械損傷。
7.4產(chǎn)品貯存時應(yīng)存放在原包裝箱內(nèi)，存放產(chǎn)品的倉庫環(huán)境溫度為0～+40℃，相對濕度為30%～95%。倉庫內(nèi)不允許有各種有害氣體、易燃、易爆的產(chǎn)品及有腐蝕性的化學(xué)物品，并且應(yīng)無強烈的機械振動、沖擊和強磁場作用。包裝箱應(yīng)墊離地面至少10cm，距離墻壁、熱源、冷源、窗口或空氣入口至少50cm。貯存期為三個月。若在生產(chǎn)廠存放超過三個月，則應(yīng)重新進行交收檢驗。
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